日本計量新報 2010年8月29日 (2835号) |
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分析展・科学機器展が合同開催
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昨年の分析展会場のようす
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(社)日本分析機器工業会と日本科学機器団体連合会は合同で「分析展2010/科学機器展2010」を、9月1日(水)〜3日(金)、千葉県千葉市の幕張メッセ国際展示場で開催する。入場無料。
『分析機器総覧』『科学機器総覧』を来場者全員に無料進呈。『分析機器の手引き』を毎日先着500名に無料進呈する。
研究開発・生産技術を支援する「分析・計測・科学機器の総合展」として開催する同展は、合同展とすることで3万人以上の来場を見込んでいる。両展の合同開催は今回が初めて。
2010年合同展は2つのキャッチフレーズ「確かな技術で未来を分析」(分析展2010)と「明日を拓く科学技術」(科学機器展2010)を掲げる。「研究開発・分析の入口から出口まで」の最新機器の紹介・最新情報を発信する、アジア最大級の展示会をめざしている。
併催は「新技術説明会」(9月1日(水)>〜3日(金)、アパホテル&リゾート〈東京ベイ幕張〉〔旧幕張プリンスホテル・プリンスホール〕・ホテルニューオータニ幕張、330テーマ。聴講料無料)と「JAIMAコンファレンス」(8月31日(火)〜9月3日(金)、幕張メッセ国際会議場、約40テーマ、聴講料有料〔一部無料もある〕、要旨集有料)。
共催事業は「東京コンファレンス」((社)日本分析機器工業会、(社)日本分析化学会)。
【入場事前登録】https://www.jaimasis.jp/2010/sys/user/pre_reg.php
【問い合わせ先】分析展2010/科学機器展2010合同展委員会((社)日本分析機器工業会内、担当小川)=〒101−0054、東京都千代田区神田錦町1−10−1サクラビル3F、電話03−3292−0642、FAX03−3292−7157、電子メールwebmaster@jaima.or.jp
東京都計量検定所管理指導課指導係は、東京都に届出をしている事業者を対象とした「質量計届出製造・修理事業者等連絡会」を2010年8月20日<CODE NUMTYPE=SG NUM=753B>に、東京都計量検定所会議室で開催した。
連絡会の内容は次のとおり。
(1)経過措置終了後のH・M・O級検定申請について=H・M・O級はかりの経過措置が2010年8月31日に終了することを再確認した。計量器それぞれの経過措置詳細は、産業技術総合研究所のページを参照(http://www.nmij.jp/~legal-met/requirement/mass/approval/keika/)。
東京都では、都内の事業者が8月31日までに製造したH・M・O級はかりの数を把握するため、「HMO級検定申請予定数報告書」を提出してほしいと呼びかけている。
(2)質量計の検定における確認事項=特定計量器の申請、修理、販売に関する計量法の条文を紹介。検定にあたっては、条文通りの対応を基本とすることを確認した。
(3)届出製造・修理事業者の「検査規則」更新について=検定の移行に伴い、製造・修理事業者は、JIS B 7611−2に対応した検査規則を制定し、検査義務を徹底してほしい、とした。
(4)適正計量管理事業者のはかりの検査について=適正計量管理事業者が発行する点検・検査等の報告書について、計量法と照らし合わせて確認した。
適正計量管理事業所が保存する帳簿には、適正計量管理事業所指定申請書に記載された計量士が行った計量器の検査結果を記載しなければならない。その他にも、報告書の注意点を解説した。
(5)その他(要望事項等)
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